中级工(部分重复题目未放）

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用以确切地表示探伤仪中某电路系统的结构、原理，并由线条、箭头、数字、波形表示的图形称为(　　)。

超声波探伤激励晶片振动的电脉冲产生于(　　)。

在同一介质中，超声波的声强与声压的平方(　　)。

用K2探头探测T=15mm的对接焊缝，仪器按水平l：1调节扫描速度，探伤中示波屏上水平刻度5格发现一缺陷波，此缺陷的深度(　　)。

用K2探头探测T=40mm的对接焊缝，仪器按深度1：1调节扫描速度，探伤中在示波屏水平刻度3格处发现一缺陷波，这个缺陷的水平距离为(　　)。

用K2探头探测T=40mm的对接焊缝，仪器按深度1:1调节扫描速度，探伤中在示波屏水平刻度6格处发现一缺陷波，这个缺陷的水平距离为(　　)。

焊缝探伤中发现位于(　　)的缺陷要测定缺陷波的幅度和指示长度。

一般探头发射的声场只有一个主声束，远场区轴线上声压(　　)。

电路中原来不该相连接的地方出现了连接导通，这种情况通常称为(　　)。

硅二极管正向导通电压为(　　)。

晶体三极管的基极、集电极和发射极分别用(　　)表示。

CSK-1A试块R50、R100阶梯圆弧面同时获得2个反射回波用于校正(　　)。

CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔，主要用来测试斜探头的(　　)。

CSK-1A试块利用厚度25mm和高度100mm测定探伤仪的(　　)。

CSK-1A试块R100圆弧面可测定(　　)。

CSK-1A试块91底面的(　　)纵波回波时间相当于R100弧面的一次横波回波的时间。

CSK—1A试块φ1.5横孔用来测量斜探头K(　　)的探头。

CSK-1A试块有机玻璃可测定(　　)。

SH-1型半圆试块(　　)。

阶梯试块主要用于测定(　　)的距离幅度特性和阻塞范围。